Name: MegiQ VNA-0440E-SB
Brand: MegiQ
Availability: Discontinued

Beschreibung

Die MegiQ VNA-0400/e sind kompakte Vektor-Netzwerkanalysatoren, die für professionelle Antennen- und Netzwerkmessungen und -optimierungen eingesetzt werden. Mit einem Frequenzbereich von 400 MHz bis 4/6 GHz eignen sie sich hervorragend zur Charakterisierung und Messung von S-Parametern von 1-, 2- und 3-Port-Netzwerken wie Antennen, Anpassnetzwerke, Verstärker, Filter, Powersplitter etc.

Sie decken alle gängigen Kommunikationsbänder ab, die weltweit verwendet werden. Bestimmen Sie die Übertragungskennwerte der drahtlosen Geräte von heute, wie IOT-Geräte, Router, Telefone, Antennen, elektronische Geräte, Tablets, Laptops, HF-Module usw.

Der MegiQ VNA-0440 wird häufig für die Entwicklung von drahtlosen Produkten für professionelle und Verbraucher verwendet. Mit unserem Zubehör können Sie die Miniaturprodukte von heute leicht messen.

Kerndaten

2-port bidirectional VNA
Messungen S11, S12, S21, S22
Frequenz 400MHz to 4GHz (6GHz)
Leistung -30 to +5dBm
Sweep bis zu 20001 Punkte
Kalibrierter Eingang
Full 12-term normalization
Parametrische "sweeps"
Match-Circuit-Rechner
De-embedding Funktionen
Calkit Manager

Software

Voreinstellungen: Mit mehreren voreingestellten Messungen für 1-Port- und 2-Port-Messungen ist die VNA-Software sehr einfach für die meisten gängigen Messungen wie Impedanz und Verstärkung zu verwenden.
Kalibrierung: Messungen an SMA-Geräten können direkt an den VNA-Ports ohne Kalibrierung durchgeführt werden. Für Messungen über Kabel und Adapter führt die Software durch den Open-Short-Load-Through-Kalibrierungsvorgang und die VNA-Frontplatte zeigt an, welcher Abschluss als nächstes kalibriert werden soll. Die Dual-Calkit-Option ermöglicht eine dreimal schnellere Kalibrierung.
Bildschirm: Der Bildschirm wurde für die Bedienung mit einem Touchscreen ausgelegt. Die Graphen können in beliebiger Weise mit einem der Graphtypen für die Messung gezogen werden. Es gibt verschiedene Farbschemata.
Sweeps: Die Software bietet einen Sweep-Manager, der die Kombination mehrerer Parameter (Frequenz, Leistung, Bias-Variablen) zu einem parametrischen Sweep ermöglicht. Dies ist nützlich für die Charakterisierung aktiver Schaltungen wie Verstärker, Schalter, Varaktoren, Pin-Dioden usw.
Session-Manager: Messungen können in einem Sitzungsmanager gespeichert werden, der die Messungen für eine Sitzung in einer einzigen Datei speichert. Alle Einstellungen einschließlich Kalibrierung, Bildschirmlayout, Markierungen usw. werden in der Sitzung gespeichert.
API: Eine Anwendungsprogrammierschnittstelle für VB, C ++, C #, Labview usw. ist verfügbar, um die Integration des VNA-0440 in eine Laboreinrichtung oder ein automatisiertes Fabrikprüfsystem zu ermöglichen.